Dielectric Constant and Loss Tangent of Silicon at 700–900 GHz at Cryogenic Temperatures - Observatoire de Paris Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Microwave and Wireless Components Letters Année : 2019
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Dates et versions

obspm-03988457 , version 1 (14-02-2023)

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Citer

Kangmin Zhou, Sylvain Caroopen, Yan Delorme, Michele Batrung, Maurice Gheudin, et al.. Dielectric Constant and Loss Tangent of Silicon at 700–900 GHz at Cryogenic Temperatures. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 2019, 29 (7), pp.501-503. ⟨10.1109/LMWC.2019.2920532⟩. ⟨obspm-03988457⟩
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