Dielectric Constant and Loss Tangent of Silicon at 700–900 GHz at Cryogenic Temperatures - Observatoire de Paris Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Microwave and Wireless Components Letters Année : 2019

Dielectric Constant and Loss Tangent of Silicon at 700–900 GHz at Cryogenic Temperatures

Domaines

Astrophysique [astro-ph]

la. bibliotheque  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-obspm.ccsd.cnrs.fr/obspm-03988457

Soumis le : mardi 14 février 2023-14:14:59

Dernière modification le : jeudi 18 juillet 2024-11:14:06

Fichier non déposé

Dates et versions

obspm-03988457 , version 1 (14-02-2023)

Identifiants

Citer

Kangmin Zhou, Sylvain Caroopen, Yan Delorme, Michele Batrung, Maurice Gheudin, et al.. Dielectric Constant and Loss Tangent of Silicon at 700–900 GHz at Cryogenic Temperatures. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 2019, 29 (7), pp.501-503. ⟨10.1109/LMWC.2019.2920532⟩. ⟨obspm-03988457⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

OBSPM INSU CNRS UNIV-CERGY LERMA PSL SORBONNE-UNIVERSITE SU-SCIENCES
8 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Mastodon Facebook X LinkedIn More