Article Dans Une Revue
IEEE Microwave and Wireless Components Letters
Année : 2019
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https://hal-obspm.ccsd.cnrs.fr/obspm-03988457
Soumis le : mardi 14 février 2023-14:14:59
Dernière modification le : jeudi 18 juillet 2024-11:14:06
Citer
Kangmin Zhou, Sylvain Caroopen, Yan Delorme, Michele Batrung, Maurice Gheudin, et al.. Dielectric Constant and Loss Tangent of Silicon at 700–900 GHz at Cryogenic Temperatures. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 2019, 29 (7), pp.501-503. ⟨10.1109/LMWC.2019.2920532⟩. ⟨obspm-03988457⟩
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